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2012/05/22 06:29 AM

膜厚分布150万点を同時に測定・可視化 新膜厚分布測定装置を商品化

2009/11/30 06:29 AM

投稿者: bunsekinet

分析機器関連情報

JFEテクノリサーチ株式会社



ＪＦＥテクノリサーチ（株）（本社：東京都中央区日本橋2-1-10柳屋ビル、代表取締役：影近博）は、シリコンウエハ・ガラス・樹脂フィルム・金属などの表面の薄膜の厚さの2次元的な分布を、短時間に高精度でパタンとして測定・表示する膜厚分布測定装置「FiDiCa（フィディカ）」を開発し、販売を開始しました。

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