島津製作所
6.4(金) 東京 JPCA show 2010 第40回国際電子回路産業展
プリント基板疲労・耐久試験システム,RoHS/ELVスクリーニング対応 エネルギー分散型蛍光X線分析装置,3D測定レーザー顕微鏡,マイクロフォーカスX線CT装置
クロマト,光分析,試験機,非破壊検査,粉粒体,などさまざまな分析計測機器の技術情報セミナー。(無料)
6/8(火)徳島,6/10(木)神戸,6/15(火)福山,6/18(金)静岡,6/22(火)京都,6/24(木)福岡,6/28(月)?29(火)大分,7/2(火)札幌,7/6(火)つくば,7/7(水)ひたちなか,7/9(金)名古屋,7/13(火)岡谷,7/15(木)富山,7/16(金)さいたま,7/21(水)東京,7/27(火)横浜,7/29(木)仙台。
コメント (0件)
ぶんせきNET
http://www.bunsekinet.co.jp/article.php/20100520062548577