2009年11月の記事一覧

2009/11/02

• ノロウィルス検査の受託サービスを開始致しました！
• “これからの15年、産業界はどうなってゆくのか！?” 「未来予測2010?2025」講演会
• 住化分析技術（上海）有限公司［ＳＡＥＳ］が、ラボ認定CNAS／CMAを取得しました。
• 化学者のつぶやき「ビニグロールの全合成」

2009/11/03

• 展示会・イベントニュース
• 製品ニュース
• 講演会のご案内
• 討論会・講演会情報を更新いたしました
• 技術情報
• イベント情報
• 化学者のつぶやき「C-H結合活性化を経るラクトンの不斉合成」
• 注目化学セミナー　「スケールアップ検討法・反応・晶析と実験のスピードアップ化」

2009/11/04

• 注目化学関連セミナー　「シランカップリング剤入門」
• 訂正シールの配布について

2009/11/05

• イベント情報
• イベントページを更新しました
• イベント情報

2009/11/06

• PCCP Prize 2010受賞候補者募集
• 訂正シールのPDFファイルを公開しました
• 「分析技術事例」を追加しました
• 産総研計量研修センター「環境計量士等の特別研修会」(つくば)募集のお知らせ
• バリアン 技術セミナーのご案内
• 加工性能を高めた新型の集束イオンビーム加工観察装置を開発
• セミナーDVD　特価受付中
• 【学会情報】 11月　-　12月の出展予定を更新しました
• 技術情報を追加いたしました

2009/11/07

• 技術情報の分析機器に Ms Tips / MS Data sheet No.145 「パックドカラムを用いた空気中の希ガス分析」を掲載しました
• 統計関連 話題セミナー
• 15% OFF ウェルカムディスカウント キャンペーンのお知らせ
• NEW！PCBワークショップ開催のお知らせ
• JFE-TEC News第21号を掲載しました

2009/11/10

• 技術情報を追加いたしました
• 「SEMICON Japan 2009」日立グループブースのご案内／出展社セミナーのご案内
• 新刊図書 特価情報
• 2009年計測展
• 株式会社アグネ技術センター発行「金属」11月号に当社が開発したTEC-BALLが掲載されました

2009/11/11

• パーキンエルマー最新分析セミナー
• 注目の新刊
• 情報誌「MONTHLY」 11月号をアップしました。
• 上越／新潟 最新技術セミナー

2009/11/12

• The Varian Experience (アプリケーションデータ集を日本語で掲載)
• 第19回 プロセス評価・分析技術セミナーのご案内
• 技術情報 GCMSsolution 操作 Q&A

2009/11/17

• 展示会・イベントニュース
• 製品ニュース
• 分析教室と計測のお話を更新しました。
• 化学者のつぶやき「ケージ内で反応を進行させる超分子不斉触媒」
• セミナー情報
• キャンペーン情報
• イベント情報
• キャンペーン情報
• サンプル前処理ソリューション
• 会員制サイト Solutions Navigator にデータ追加
• 製品情報 GC/GCMS 検出器切替システム を発売
• 乱用薬物検査を受託

2009/11/18

• 第90春年会講演申込開始
• イベント情報に「SEMICON Japan 2009」のご案内を掲載しました
• 技術情報 HPLCによる医薬品中陰・陽カウンターイオンの分析法について
• Pittcon 2010

2009/11/24

• 新型の微小デバイス特性評価装置を開発
• 「分析技術事例」を追加しました。
• MassHunter のFAQ 掲載しました。
• 名古屋大学向け超高圧電子顕微鏡（JEM-1000K RS）の出荷
• 技術情報
• イベント情報

2009/11/25

• バイオのページを更新しました。

2009/11/26

• イベント情報
• 水質汚濁に係る人の健康の保護に関する環境基準等の見直しについて

2009/11/27

• Access Agilent 11月号発行
• 注目の新刊
• 技術情報 HPLC技術情報誌 LCtalk Vol.74発行 11/20発送
• 信頼性を確保するための分析操作のポイント(実習付き) を新規開講
• 平成22年（平成21年度）「環境計量士受験直前講習会」のご案内
• 緊急ニュース　主要学会による緊急パネル討論・声明
• HACCPセミナー3日間コースの追加開催
• イベント情報
• 「第7回 日立ハイテクパーク21」（茨城）のご案内
• インドネシア産生鮮コーヒー豆に係るカルバリル命令検査のご案内

2009/11/30

• Users Voice
• Spectrum 400 FT-IR
• 膜厚分布150万点を同時に測定・可視化 新膜厚分布測定装置を商品化